표준화된 기술 지표: 심리측정 편차와 불확실성 측정

초록

본 논문은 파일럿 조사에서 작은 표본으로도 활용 가능한 ‘표준화된 기술 지표(SDI)’를 제안한다. SDI는 항목 평균이 이론적 중점에서 얼마나 벗어났는지를 해당 항목의 표준편차(불확실성)로 나눈 값으로, Cohen’s d의 일종으로 해석된다. 제한성, 척도 불변성, 소표본 편향 보정 등 세 가지 수학적 특성을 분석하고, 향후 형성적·반사적 지표의 중복성·일관성 기준을 정량화하는 토대를 제공한다.

상세 분석

이 논문은 파일럿 단계에서 흔히 마주하는 ‘표본이 작아 통계적 검정이 어려운’ 상황을 해결하고자, 기존에 별도로 보고되던 평균과 표준편차를 하나의 지표로 통합한다는 점에서 혁신적이다. 제안된 SDI는
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