체비셰프 거리 하에서의 순열 배열

본 논문은 플래시 메모리 응용을 위해 순열 배열을 체비셰프 거리(최대 절대 차)로 측정한다. 다양한 구성 방법과 상·하한을 제시하여 (n,d) 순열 배열의 최대 크기를 분석한다.

저자: Torleiv Kl{o}ve, Te-Tsung Lin, Shi-Chun Tsai

본 논문은 순열 배열(Permutation Array, PA)의 연구 영역에 새로운 거리 메트릭인 체비셰프 거리(Chebyshev distance)를 도입함으로써, 기존의 해밍 거리나 레벤슈타인 거리 기반 연구가 다루지 못한 응용 분야, 특히 플래시 메모리와 같은 비휘발성 저장 장치의 물리적 제약을 모델링하고자 한다. 논문은 크게 네 부분으로 구성된다. 첫 번째 부분에서는 체비셰프 거리의 정의와 그 특성을 상세히 설명한다. 두 순열 π와 σ에 대해 d_Cheb(π,σ)=max_{i∈